PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)樣品桿，是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量，并可在電學(xué)測量的同時，動態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價態(tài)進行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。

透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測量系統(tǒng)在標配的STM-TEM樣品桿上集成低溫環(huán)境控制單元，從而實現(xiàn)在透射電鏡中進行原位低溫電學(xué)測量的目的。

• 性能指標

 透射電鏡指標：

△ 兼容電鏡型號及極靴；

△ 可選雙傾版本，雙傾電學(xué)測量樣品桿Y軸傾角±25°（同時受限于極靴間距）；

△ 保證透射電鏡原有分辨率。

電學(xué)測量指標：

△ 包含一個電流電壓測試單元；

△ 電流測量范圍：１ nA-30 mA，9個量程；

△ 電流分辨率：優(yōu)于100 fA；

△ 電壓輸出范圍：普通模式±10 V，高壓模式±150 V；

△ 自動電流-電壓（I-V）測量、電流-時間（I-t）測量，自動保存。

掃描探針操縱指標：

△ 粗調(diào)范圍：XY方向2.5 mm，Z方向1.5 mm；

△ 細調(diào)范圍：XY方向18 um，Z方向1.5 um；

△ 細調(diào)分辨率：XY方向0.4 nm，Z方向0.04 nm。

低溫參數(shù)指標：

△ 兼容型號透射電鏡及極靴；

△ 全溫區(qū)結(jié)構(gòu)分辨率優(yōu)于0.2 nm；

△ 變溫范圍為85 K-380 K，溫度穩(wěn)定性優(yōu)于±0.1 K。

• 產(chǎn)品特色

△ 溫度連續(xù)可控，穩(wěn)定性高；

△ 低溫下可實現(xiàn)對樣品施加應(yīng)力及電學(xué)研究；

△ 穩(wěn)定性高：輕松獲得大幅度運動中的高分辨像，適用于更廣泛的應(yīng)用場景和樣品體系；

△ 超低維護成本：設(shè)備配套的針尖制備系統(tǒng)可低成本制備針尖耗材。"爪-球“微動結(jié)構(gòu)已實現(xiàn)模塊化量產(chǎn)，維護成本低；

△ 龐大的用戶群：在國內(nèi)擁有近200個高質(zhì)量原位用戶，出口到歐美澳等地。每年，用戶會產(chǎn)出大量高質(zhì)量研究成果。定期組織各類用戶交流活動，搭建學(xué)術(shù)平臺供用戶交流；

△ 成熟的技術(shù)支持網(wǎng)絡(luò)：在安徽、北京、東莞和上海擁有分公司，其他各地擁有若干技術(shù)支持網(wǎng)點，24小時提供技術(shù)支持